当前位置:首页 > 标准 > 行业标准 > 内容详情

YS/T 1755-2025 颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

发布日期:2025-04-10,实施日期:2025-11-01,下载格式PDF。
免费下载
举报
简介

颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 (YS/T 1755-2025) 主管部门为工业和信息化部,行业分类所属制造业。

适用于流化床法颗粒硅总金属,如铁、铬、镍、铜、钠、镁、铝、钾、钙、锌、钛、钼、钨、钴含量的测定,各元素检测范围为0.05ng/g~50ng/g。

声明:本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享,如有版权问题,请联系我们删除。

不能下载?报告错误