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YS/T 1754-2025 颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法

发布日期:2025-04-10,实施日期:2025-11-01,下载格式PDF。
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简介

颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法 (YS/T 1754-2025) 主管部门为工业和信息化部,行业分类所属制造业。

适用于颗粒硅表面粉尘的测定,测定范围为0NTU~1000NTU。

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