当前位置:首页 > 标准 > 行业标准 > 内容详情

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

发布日期:2020-12-09,实施日期:2021-04-01,下载格式PDF。
免费下载
举报
简介

晶体管低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11765-2020) 主管部门为工业和信息化部。

起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

起草人:罗宏伟、胡为、王小强 等

适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行

声明:本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享,如有版权问题,请联系我们删除。

不能下载?报告错误