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YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

发布日期:2008-03-12,实施日期:2008-09-01,下载格式PDF。
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简介

非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 (YS/T 679-2008) 主管部门为国家发展和改革委员会。

起草单位:有研半导体材料股份有限公司

起草人:孙燕、卢立延 等

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