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SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

发布日期:2009-11-17,实施日期:2010-01-01,下载格式PDF。
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简介

半导体发光二极管芯片测试方法 (SJ/T 11399-2009) 主管部门为工业和信息化部。

起草单位:中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人:鲍超、胡爱华 等

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