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YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法

发布日期:2010-11-10,实施日期:2011-03-01,下载格式PDF。
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简介

铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法 (YS/T 739-2010) 主管部门为工业和信息化部。

起草单位:中国铝业股份有限公司贵州分公司、中国铝业股份有限公司青海分公司等

起草人:袁艺、李刚 等

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