纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命 (GB/Z 37664.3-2025) 国家标准《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
起草单位：深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司、中国计量大学、国家纳米科学中心、广纳珈源（广州）科技有限公司、杭州美联医学股份有限公司、复旦大学义乌研究院、北京北达聚邦科技有限公司、南开大学、纳晶科技股份有限公司、天美仪拓实验室设备（上海）有限公司。
起草人：刘祖刚 、蔡培庆 、刘忍肖 、康永印 、赵飞 、葛广路 、庞代文 、朱小波 、郭海清 、吕碧琪 、张振星 。
该标准描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC)对半导体量子点（QDs)荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。 该标准适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。