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DB44/T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法

发布日期:2016-09-29,实施日期:2016-12-29,下载格式PDF。
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简介

超高频射频识别(RFID)芯片测试方法 (DB44/T 1905-2016) 主管部门为广东省质量技术监督局,行业分类所属制造业。

起草单位:中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公司

起草人:文光俊、李建、蒋晖、赵文强、王耀、徐永键、徐广健、陆许明、罗国章、程文彬、冷小冰、闫胜利、万其明、王伟

超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试

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