谢乐公式（Scherrer公式）是一种用于估算多晶材料中晶粒尺寸的X射线衍射分析方法。该公式由保罗·谢乐（PaulScherrer）于1918年提出，通过测量X射线衍射峰的半高宽（FWHM）来计算晶粒的平均尺寸。公式的基本形式为D=Kλ/(βcosθ)，其中D表示晶粒尺寸，K为形状因子（通常取0.9），λ为X射线波长，β为衍射峰的半高宽（弧度制），θ为布拉格衍射角。谢乐公式假设晶粒尺寸引起的展宽是唯一的展宽来源，因此在应用时需注意仪器展宽和应力等因素的影响。该公式在纳米材料、催化剂和陶瓷等领域具有广泛应用。
