半导体器件 - 柔性和可拉伸半导体器件 - 第3部分：柔性基底在鼓胀状态下薄膜晶体管特性的评估 (IEC 62951-3:2018) Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47。
IEC62951-3:2018适用于柔性显示器件中半导体纳米材料的电性能测试，具体涵盖基于溶液处理的半导体纳米线（如金属氧化物纳米线）的场效应迁移率测量方法，为相关材料的质量评估和性能比较提供标准化测试程序。