半导体器件 - 分立器件 - 第8部分：场效应晶体管 (IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV) Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors 标准发布组织为IEC，国际组织机构所属TC 47/SC 47E。
IEC60747-8:2010+AMD1:2021CSV适用于半导体分立器件中的场效应晶体管（FET），包括金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）、结型场效应晶体管（JFET）和其他类型的场效应晶体管。该标准规定了这些器件的术语和定义、额定值、特性、测试方法以及质量评估要求，旨在确保器件在电子设备中的可靠性和性能一致性。该标准的修订版（AMD1:2021）对原有内容进行了更新和补充，以反映技术发展和行业需求的变化。