文档网
文档
资料
合集
标准
搜索
当前位置:
首页
>
标准
>
行业标准
> 内容详情
SJ/Z 3206.13-1989 半导体材料发射光谱分析方法通则
标准号
SJ/Z 3206.13-1989
下载格式
PDF
发布日期
2-10-1989
实施日期
3-1-1989
标准类别
行业标准
收藏
下载
免费下载
此标准仅供学习参考,使用请以正式出版的标准版本为准。
简介
半导体材料发射光谱分析方法通则 (SJ/Z 3206.13-1989)
声明:资源收集自网络无法详细核验或存在错误,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
不能下载?报告错误
翻页:
SJ/Z 3206.14-1989 光谱化学分析误差及实验数据处理方法通则
相关信息
T/CI 544-2024 低维半导体材料生长 、表征及电子元器件制作流程规范
半导体材料科学中的漂移扩散模型和流体动力学模型分析
SJ/Z 3206.13-1989 半导体材料发射光谱分析方法通则
SJ/T 11775-2021 半导体材料多线切割机
T/ZJATA 0017-2023 制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备
SJ/Z 3206.13-1989 半导体材料发射光谱分析方法通则
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
计量标准
其他标准
热门标签
甲醛
玻璃
退刀槽
平垫圈
圆钢
疏水阀
检验检测
热处理
工业自动化
食品安全
换热器
插头
钢结构
污染物排放
进出口
建筑设计防火
口罩
硬度