文档网
文档
资料
合集
标准
搜索
当前位置:
首页
>
标准
>
行业标准
> 内容详情
SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
发布日期:1975-07-26,实施日期:1976-06-01,下载格式PDF。
收藏
下载
免费下载
举报
简介
硅开关二极管反向击穿电压的测试方法 (SJ 966-1975)
声明:本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享,如有版权问题,请
联系
我们删除。
不能下载?报告错误
翻页:
SJ 97-1965 变压器和阻流圈用小型铁芯片
相关信息
SJ 20071-1992 半导体分立器件 2CK4148型硅开关二极管详细规范
SJ 20070-1992 半导体分立器件 2CK105型硅开关二极管详细规范
SJ 20069-1992 半导体分立器件 2CK76型硅开关二极管详细规范
SJ 20274-1993 半导体分立器件2CK84型硅开关二极管详细规范
SJ 50033.56-1994 半导体分立器件 2CK85型硅开关二极管详细规范
SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
用户名称:
-南风4885
注册时间:
2025-03-04
认证方式:
手机认证
资源帮助
上传文档
热门标签
无缝钢管
硬度
螺栓
液压
气体
锻件
锁紧螺母
不锈钢
齿轮
钢管
检验检测
垫圈
管道
电气设备
电动汽车
建筑
轴承
热电偶